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IC集成电路老化测试座(DIP封装) |
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![]() 参考价格: 元 发布时间:2009-01-08 在线联系: 无需注册,立刻在线联系我们
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IC老化测试座(DIP封装) 该系列夹具适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯 产品型号及规格; IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J(K)宽跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄脚、IC-28J、IC-28J(K)宽跨度、IC-40J 主要技术指标; |
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