SOP型集成电路老化测试夹具(IC测试治具)

SOP型集成电路老化测试夹具(IC测试治具)

该系列夹具适用于SOP封装的片状集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验

作连结之用。产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯。

产品型号及规格；

SOP-8  SOP-16 

主要技术指标；
间距；1.27mm            环境温度；-55℃—+155℃      接触电阻；≤0.01欧      

工作电压；DC500V      弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金）