LJZ双列集成电路带板老化测试座

LJZ双列集成电路带板老化测试座

该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用:

产品型号及规格；

带板LJZ-14、18

主要技术指标；
间距；2.54mm      环境温度；-55℃—+155℃    接触电阻；≤0.01欧     工作电压；DC500V
单脚插入力；≤0.2Kg     弹片金层厚度；1um镍2um金