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TO封装集成电路老化测试插座

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发布时间:2008-12-03
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该插座用于金属壳集成电路及晶体管老化、测试、筛选作连结之用,连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、镀银、镀镍等工艺,该插座耐高温、绝缘性能好,经久耐用,深受用户的欢迎。

产品型号及规格;

CY-4、81012

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