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TO封装集成电路老化测试插座 |
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![]() 参考价格: 元 发布时间:2008-12-03 在线联系: 无需注册,立刻在线联系我们
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该插座用于金属壳集成电路及晶体管老化、测试、筛选作连结之用,连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、镀银、镀镍等工艺,该插座耐高温、绝缘性能好,经久耐用,深受用户的欢迎。 产品型号及规格;
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